海关编码

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9031410000hs编码

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您查询的海关编码(HSCODE)[9031410000]申报要素及申报实例等详细信息
归属分类:第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节归属:第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
90314100.00
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商品名称
制造半导体器件的检测仪和器具
申报要素
0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌;5:型号;6:GTIN;7:CAS;
法定第一单位
法定第二单位
最惠国(%)
0%
进口普通(%)
17%
出口从价关税率
0%
增值税率
13%
退税率(%)
13%
消费税率
-
海关监管条件
检验检疫
商品描述
制造半导体器件的检测仪和器具第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的
英文名称
Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
个人行邮(税号)
27000000
行邮名称 进口税税款 规格 单位
其他物品 30%
海关监管条件(无)HS法定检验检疫(无)
许可证或批文代码 许可证或批文名称
检验检疫代码 名称
申报实例汇总
HS编码 商品名称 商品规格
90314100.00 变焦光学系统 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显
90314100.00 半导体膜厚测量仪(旧) 在制造半导体器件工艺中,用于测量晶片表面镀膜的厚度|测
90314100.00 静电卡盘 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定,进行工艺处
90314100.00 半导体颗粒测试仪(旧) 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束,射
90314100.00 制造半导体器件的检测仪和器具 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化
90314100.00 多晶硅电池片分色检验仪 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外
90314100.00 硅片颗粒扫描仪(旧) 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗
90314100.00 半导体检测设备 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K
90314100.00 硅晶片检测仪 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂|用于检测硅晶片质
90314100.00 DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE (O-PAS700S/电压100V)
90314100.00 静电卡盘 制造半导体芯片过程中,芯片在反应室中通过静电卡盘上依靠
90314100.00 全自动晶粒挑拣机 使用设备,根据程序指令及自动视觉影像辨识,将符合要求的
90314100.00 半导体晶片光学检测仪(旧) 检测半导体晶片表面缺陷;KLATencor;KLA2
90314100.00 三维管脚检测仪(旧) 检测用;品牌ICOS;检测;型号CI-T1XO
90314100.00 晶格图像检测机 型号:LEDA-PNP M6600;检测对象:LED芯片,无测试结果;显
90314100.00 VITROX外观检测系统VT-LP2000T 检测晶体管外观用设备
90314100.00 半导体器件测试机, DC2600
90314100.00 全自动外观检查机 型号:LI-700B2,自动光学检测
90314100.00 半导体检测仪(旧) DM2000
90314100.00 DVD光学头评价机/PULSTEC 光学头评价/O-PAS710A交流100V

作者:HS CODE目录 来源:网络
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